Вимірювання - лінійний розмір - Велика Енциклопедія Нафти та Газа
Вимірювання - лінійний розмір
Вимірювання лінійних розмірів потрібно виконувати в значно більшому діапазоні - від часток мікрометра, наприклад при вимірюванні мікрогеометрії шорсткостей у процесі виробничого контролю чистоти обробки поверхонь у точному машинобудуванні, і до багатьох сотень і тисяч кілометрів при вимірюванні відстаней у геодезії, навігації чи астрономії. [1]
Вимірювання лінійних розмірів між зовнішніми торцевими поверхнями щік колінчастого валу здійснюється або за допомогою універсальних вимірювальних інструментів (лінійка, штангенциркуль та ін), або спеціальними граничними шаблонами. [2]
Вимірювання лінійних розмірів з підвищеною точністю здійснюється спеціальними приладами - мініметрами (точність 00005 мм) та параметрами. Еталонами лінійних розмірів служать дуже точно шліфовані плитки (плітки Йогансона), що перевіряються оптичним (інтерференційним) методом. Завдяки точності шліфування плитки Йогансона, складені разом, злипаються від дії молекулярних сил і для роз'єднання їх треба не відривати одна від одної, а зрушувати одну щодо іншої. [3]
Вимірювання лінійних розмірів з підвищеною точністю здійснюється спеціальними приладами - мініметрами (точність - 00005 мм), пасаметрами. Точними стандартами лінійних розмірів служать дуже точно шліфовані еталонні плитки ( плитки Йогансона), що перевіряються оптичним ( інтерференційним) методом. Завдяки точності шліфування плитки Йогансона, складені разом, злипаються від дії молекулярних сил і для роз'єднання їх треба не відривати, а зрушувати одну з одною. [4]
Вимірювання лінійних розмірів з підвищеною точністю здійснюється спеціальними приладами - мініметрами (точність - 00005 мм), пасаметрами.Точними стандартами лінійних розмірів служать дуже точно шліфовані еталонні плитки ( плитки Йогансона), що перевіряються оптичним ( інтерференційним) методом. Завдяки точності шліфування плитки Йогансона, складені разом, злипаються від дії молекулярних сил і для роз'єднання їх треба не відривати, а зрушувати одну з іншої. [5]
Вимірювання лінійних розмірів виробляють мікрометром, що періодично повіряється по каліброваних плитках; діаметр або товщину зразків вимірюють при цьому на декількох ділянках по довжині зразка і двох взаємно перпендикулярних напрямках і обчислюють середнє значення цих величин. Підрахунок поперечного перерізу краще проводити на арифмометрі або таблицях логарифмів, так як обчислення за допомогою логарифмічної лінійки звичайної довжини не дає належної точності. Іноді визначення перерізу проводять зважуванням зразка та розрахунком за питомою вагою та довжиною. [6]
Вимір лінійного розміру впорядкованих областей1 ( світлі області на темному полі), або доменів, призводить до значень 15 - 40 ім. [8]
Вимірювання лінійних розмірів та відстаней від часток мікрометрів до 100 мм часто зустрічаються в машинобудуванні. Для вимірювання таких величин використовують аналогові та цифрові прилади. При вимірюванні лінійних розмірів на металорізальних верстатах з числовим програмним керуванням застосовують цифрові прилади з перетворювачами, що кодують, лінійних переміщень. Похибка вимірювання розмірів такими приладами не більше 10 мм не перевищує 0 3 мкм. [9]
Вимірювання лінійних розмірів кристала можна проводити і при схрещених ніколях, якщо в цих умовах зерна видно більш чітко, ніж при вимкненому аналізаторі. [10]
Для вимірювання лінійних розмірів (довжини, ширини, висоти, діаметра) зразокпоміщають на нижню плиту вимірювального приладу при піднятому верхньому вимірювальному майданчику. Потім верхню площадку опускають на зразок і лінійкою з ноніусом роблять відлік з точністю до 0 1 мм. З отриманих лінійних розмірів проводиться розрахунок обсягу зразка. [12]
Для вимірювання лінійних розмірів (довжини, ширини, висоти, діаметра) зразок поміщають на нижню плиту вимірювального приладу при піднятому верхньому вимірювальному майданчику. Потім верхню площадку опускають на зразок і лінійкою з ноніусом роблять відлік з точністю до 0 1 мм. [13]
Для вимірювання лінійних розмірів у машинобудуванні використовуються джерела Р- та у-випромінювань. [14]