Катастрофічна відмова - Велика Енциклопедія Нафти та Газа
Катастрофічна відмова
Катастрофічні відмови пов'язані головним чином із недоліками конструкції, хоча у ряді випадків є наслідком невідпрацьованості чи порушення технологічного процесу. Вони проявляються у вигляді обривів зовнішніх та внутрішніх висновків та деталей, тріщин кристалів, пробоїв та коротких замикань у ланцюгах електродів. [1]
Катастрофічні відмови не є основними для транзисторів - на їхню частку припадає приблизно 20% всіх відмов, що спостерігаються. Здебільшого відмови транзисторів обумовлені поступовим зміною параметрів понад допустимих відхилень. [3]
Катастрофічні відмови часто призводять до повної втрати працездатності приладу. Катастрофічні відмови, зазвичай, обумовлені недоліками конструкції чи технології, і навіть умовами експлуатації. У разі умовних відмов прилад стисне зберігати повну або часткову працездатність, але його параметри з часом помітно відхиляються від початкових значень. [4]
Катастрофічні відмови з вини людини трапляються рідко; значно частіше мають місце відмови, спричинені недоліками виробництва. Статистичні дані про ці дефекти важливі не як джерело інформації про відмову, що має індивідуальну основу, оскільки за виявленими відмовами, очевидно, вже було вжито заходів. Їхнє важливе значення полягає в тому, що виявлення великої кількості подібних дефектів дозволяє оцінити реальну ситуацію та передбачити очікувану кількість помилок та дефектів даного типу. Статистичні дані характеризують загальний рівень виробництва та загальну атмосферу роботи. [5]
Катастрофічні відмови не є основними для транзисторів - на їхню частку припадає приблизно 20% всіх відмов, що спостерігаються. В основному жвідмови транзисторів обумовлені поступовим зміною параметрів понад допустимих відхилень. [6]
Катастрофічні відмови не є основними для транзисторів - на їхню частку припадає приблизно 20% всіх відмов, що спостерігаються. Здебільшого відмови транзисторів обумовлені поступовим зміною параметрів понад допустимих відхилень. [7]
Катастрофічний відмова - це відмова, що виникла в результаті стрибкоподібного зміни значень одного або декількох основних параметрів виробу. [8]
Катастрофічні відмови пов'язані з повною втратою працездатності приладу і відбуваються в результаті обривів або коротких замикань внутрішніх або зовнішніх висновків, пробою р-і-переходу, тріщин скла. Вони зумовлені переважно недоліками конструкції чи порушенням технологічного процесу. [9]
Катастрофічні відмови пов'язані з повною втратою працездатності приладу і відбуваються в результаті обривів або коротких замикань внутрішніх або зовнішніх висновків, пробою р-п-переходу, тріщин скла. Вони зумовлені переважно недоліками конструкції чи порушенням технологічного процесу. [10]
Катастрофічні відмови з вини людини трапляються рідко; значно частіше мають місце відмови, спричинені недоліками виробництва. Статистичні дані про ці дефекти важливі не як джерело інформації про відмову, що має індивідуальну основу, оскільки за виявленими відмовами, очевидно, вже було вжито заходів. Їхнє важливе значення полягає в тому, що виявлення великої кількості подібних дефектів дозволяє оцінити реальну ситуацію та передбачити очікувану кількість помилок та дефектів даного типу. Статистичні дані характеризують загальний рівень виробництва та загальну атмосферу роботи. [11]
Катастрофічні відмови з вини людини трапляються рідко;значно частіше мають місце відмови, викликані недоліками npo-v виробництва. Статистичні дані про ці дефекти важливі не як джерело інформації про відмову, що має індивідуальну основу, оскільки за виявленими відмовами, очевидно, вже було вжито заходів. Їхнє важливе значення полягає в тому, що виявлення великої кількості подібних дефектів дозволяє оцінити реальну ситуацію та передбачити очікувану кількість помилок і дефектів даного типу. Статистичні дані характеризують загальний рівень виробництва та загальну атмосферу роботи. [12]
Катастрофічні відмови транзисторів є найчастіше наслідком або недостатнього відпрацювання їх конструкції, або порушень у технології. Як і напівпровідникових діодах ( див. § 3.32), катастрофічні відмови транзисторів викликаються обривами висновків, розтріскуванням кристала, пробоєм переходів чи оксидного шару, короткими замиканнями. [13]
Катастрофічні відмови транзисторів є найчастіше наслідком або недостатнього відпрацювання їх конструкції, або порушень у технології. Як і напівпровідникових діодах ( див. § 1.23), катастрофічні відмови транзисторів викликаються обривами висновків, розтріскуванням кристала, пробоєм переходів чи окисного шару, короткими замиканнями. [14]
Катастрофічні відмови транзисторів є найчастіше наслідком або недостатнього відпрацювання їх конструкції, або порушень у технології. Як і напівпровідникових діодах ( див. § 3.31), катастрофічні відмови транзисторів викликаються обривами висновків, розтріскуванням кристала, пробоєм переходів чи окисного шару, короткими замиканнями. [15]