Діагностування обладнання процесорів
Подача тестових впливів, зняття відповіді, аналіз та видача результатів реалізації алгоритму діагностування виконуються за допомогою стандартних діагностичних операцій: "Установка", "Опитування", "Порівняння" та "Розгалуження".
Метод послідовного сканування— цеваріантметоду двоетапного діагностування, приякому схеми з пам'яттю - (регістри та тригери) в режимі діагностування перетворюються на один зсувний регістр з можливістю встановлення їх у довільний стан та опитування за допомогою операції зсуву.Метод поширений в ЕОМ, реалізованих на великих інтегральних мікросхемах (ВІС).
Метод мікродіагностування.Об'єктом елементарної перевірки є апаратура, що бере участь у виконанні мікрооперації,широко застосовується для міні- та мікро-ЕОМ та пристроїв у їх складі.
Мікропрограма перевірки чергової мікрооперації використовує вже перевірені мікрооперації та тракти передачі. Транспортування тестового впливу на вхід апаратури, що перевіряється, виконується за допомогою наявного в ЕОМ набору мікрооперацій по існуючих інформаційних трактах.
Зняття відповіді та передача його з виходу апаратури, що перевіряється, на входи схем порівняння виконуються або мікропрограмно, або за допомогою спеціальних діагностичних операцій "Опитування" і "Порівняння".
Метод еталонних станів.Об'єктом елементарних перевірок є апаратура, яка використовується на одному або кількох тактах виконання робочого алгоритму функціонування, що реалізується в режимі діагностування.В якості результату елементарної перевірки використовують стан апаратурних засобів діагностованого пристрою.
Процес діагностування зметоду еталонних станів полягає в потактовому виконанні робочих алгоритмів ДК, опитуванні стану ДК на кожному такті, порівнянні стану ДК з еталонним і розгалуженні в залежності від результату порівняння до виконання наступного такту або повідомлення про несправність.
Для реалізації методу еталонних станів як засоби тестового діагностування застосовують сукупність апаратурних та програмних засобів.
Метод діагностування, орієнтований на перевірку змінних блоків.Об'єктом елементарних перевірок є змінні блоки.Тестові впливи подаються на входи змінних блоків, а відповіді знімаються з їх виходів безпосередньо або через додаткову апаратуру .
Цей метод дозволяє локалізувати несправність в ЕОМ за допомогою діагностичних тестів для змінних блоків. Такий підхід зменшує витрати на розробку діагностичного забезпечення ЕОМ, що складається, як правило, з діагностичних тестів ЕОМ та діагностичних тестів змінних блоків.У більшості випадків як змінні блоки ЕОМ використовують ТЕЗ, що дозволяє проводити діагностування ЕОМ за допомогою діагностичних тестів ТЕЗ.