Мікроспектроскопія – це
Скануючий тунельний мікроскоп — Схема роботи скануючого тунельного мікроскопа Скануючий тунельний мікроскоп (СТМ … Вікіпедія
Особливість-орієнтоване сканування — (ООС, англ. FOS – feature oriented scanning)[1][2][3][4] спосіб прецизійного вимірювання рельєфу поверхні на сканувальному зондовому мікроскопі, при якому особливості (об'єкти) поверхні служать як опорні точки для прив'язки зонда… … Вікіпедія
Особливість-орієнтоване позиціонування — (ООП, англ. FOP feature oriented positioning)[1][2] спосіб прецизійного переміщення зонда скануючого мікроскопа по досліджуваній поверхні, при якому особливості (об'єкти) поверхні використовуються як опорні точки для прив'язки… … Вікіпедія
Зустрічне сканування — (ВС, англ. CS counter scanning)[1][2][3] спосіб сканування, що дозволяє виправляти спотворення растру, викликані дрейфом зонда скануючого мікроскопа щодо вимірюваної поверхні. В ході НД отримують два скани поверхні - прямий і ... Вікіпедія
Скануючий атомно-силовий мікроскоп — Атомно-силовий мікроскоп Атомно-силовий мікроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope) скануючий зондовий мікроскоп високої роздільної здатності. Використовується для визначення рельєфу поверхні з роздільною здатністю від дес … Вікіпедія
Близькопольна оптична мікроскопія — (БОМ) оптична мікроскопія, що забезпечує роздільну здатність краще, ніж у звичайного оптичного мікроскопа. Підвищення дозволу БОМу досягається детектуванням розсіювання світла від об'єкта, що вивчається, на відстанях менших, ніж довжина хвилі світла.
Ближньопідлоговий оптичний мікроскоп — Близькопольна оптична мікроскопія оптична мікроскопія, заснована на ефекті присутності вдальній зоні випромінювання слідів взаємодії світла, що ідентифікуються, з мікрооб'єктом, що знаходиться в ближньому світловому полі, тобто на відстані багато … Вікіпедія
ООСЗМ — Особливість орієнтоване сканування (ООС)[1][2] метод прецизійного вимірювання нанотопографії поверхні, а також інших її властивостей та характеристик на сканувальному зондовому мікроскопі (СЗМ), при якому особливості (об'єкти) поверхні… Вікіпедія
Об'єктно-орієнтоване сканування — Особливість орієнтоване сканування (ООС)[1][2] метод прецизійного вимірювання нанотопографії поверхні, а також інших її властивостей та характеристик на сканувальному зондовому мікроскопі (СЗМ), при якому особливості (об'єкти) поверхні… … Вікіпедія
Растровий тунельний мікроскоп - Скануючий тунельний мікроскоп (СТМ) система зразок + голка, до яких прикладена різниця потенціалів. Електрони із зразка тунелюють на голку, створюючи таким чином тунельний струм. Величина цього струму експоненційно залежить від відстані.